5962-9172701Q3A

SN54BCT8374A SCAN TEST DEVICES W.

• Основные параметры:
• Тип: сканируемое устройство тестирования (Scan Test Device)
• Производитель: Texas Instruments
• Микросхема
• Используется для тестирования цифровых схем
• Поддерживает сканирование данных для диагностики и отладки
• Плюсы:
• Улучшенная надежность и качество продукции благодаря более эффективному тестированию
• Экономия места на платах за счет компактного дизайна
• Упрощенное тестирование благодаря сканируемому дизайну
• Минусы:
• Сложность в проектировании и реализации сканируемых цепей
• Затраты на дополнительное оборудование для тестирования
• Общее назначение:
• Тестирование цифровых логических схем
• Диагностика и отладка цифровых устройств
• Увеличение надежности и качества продукции
• В каких устройствах применяется:
• Цифровые микроконтроллеры
• Цифровые интегральные схемы
• Автомобильные системы управления
• Компьютеры и серверы
• Мобильные устройства