5962-9172701QLA

SN54BCT8374A SCAN TEST DEVICES от Texas Instruments

• Основные параметры:
  • Тип: сканируемый тестовый устройство (Scan Test Device)
  • Количество входов/выходов (I/O): 8
  • Технология: CMOS
  • Напряжение питания: 2.0 В – 5.5 В
  • Частота работы: до 100 МГц
• Плюсы:
  • Высокая надежность благодаря сканируемой структуре
  • Улучшенная диагностика и тестирование
  • Поддержка BIST (Built-In Self-Test) для автоматического тестирования
  • Малый размер и низкая энергопотребляемость
• Минусы:
  • Замедление скорости работы из-за дополнительной логики для тестирования
  • Необходимость дополнительного оборудования для тестирования
• Общее назначение:
  • Использование в цифровых электронных устройствах для обеспечения высокого уровня надежности
  • Тестирование логических блоков и цепей
  • Поддержка диагностики и исправления ошибок в системах
• В каких устройствах применяется:
  • Системы управления
  • Процессоры
  • Цифровые радиоэлектронные приборы
  • Автоматизация промышленного оборудования
  • Телекоммуникационное оборудование