5962-9318601M3A

• Эффективность тестирования: Возможность быстрого и точного сканирования и тестирования.
• Минимальное количество соединений: Уменьшение количества необходимых проводников.
• Упрощение дизайна: Сокращение сложности и размера электронных устройств.

Минусы:

• Ограниченные возможности: Может не подойти для сложных систем с большим количеством элементов.
• Требования к оборудованию: Необходимо специальное оборудование для тестирования.
• Затраты: Могут быть выше по сравнению с простыми решениями.

Общее назначение:

• Тестирование цифровых логических устройств.
• Сканирование состояния логических цепей.
• Диагностика и отладка цифровых систем.

Применение:

• В цифровых процессорах и контроллерах.
• В системах управления и автоматизации.
• В тестовых приборах и средствах диагностики.