Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
B2-1-J-48

B2-1-J-48

B2-1-J-48
;
B2-1-J-48

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена B2-1-J-48 при покупке от 1 шт 6968.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить B2-1-J-48 с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание B2-1-J-48

Размеры: .005 X .001 X 1

  • Ширина: 0.005 дюйма (≈ 0.127 мм)
  • Толщина: 0.001 дюйма (≈ 0.025 мм)
  • Длина: 1 дюйм (≈ 25.4 мм)

FIB (Focused Ion Beam) - спецификация:

  • Производитель: Nanmac
  • Маркировка: B2-1-J-48
  • Описание: J

Основные параметры:

  • Тип материала: обычно это кремний или другая полупроводниковая подложка для микроскопических образцов
  • Применение: для подготовки образцов под микроскопию FIB

Плюсы:

  • Высокая точность и качество обработки
  • Универсальность применения
  • Улучшенное качество изображения при микроскопии FIB

Минусы:

  • Высокая стоимость оборудования и материалов
  • Сложность операций
  • Требуется специальное обучение для использования

Общее назначение:

  • Подготовка микрообразцов для исследования
  • Корректировка и модификация поверхности материалов
  • Изучение структуры материалов на молекулярном уровне

В каких устройствах применяется:

  • Фокусированные ионные бомбы (FIB)
  • Электронно-лучевые микроскопы (SEM)
  • Атомно-поглощающие спектрометры (AES)
  • Нанотехнологические лаборатории
Выбрано: Показать

Характеристики B2-1-J-48

  • 94 шт
    3-6 недель
  • Количество
    Цена
  • 1
    6 968 ₽
  • 10
    6 619 ₽
  • 20
    6 288 ₽
  • 50
    5 973 ₽
  • 100
    5 675 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена B2-1-J-48 при покупке от 1 шт 6968.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить B2-1-J-48 с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание B2-1-J-48

Размеры: .005 X .001 X 1

  • Ширина: 0.005 дюйма (≈ 0.127 мм)
  • Толщина: 0.001 дюйма (≈ 0.025 мм)
  • Длина: 1 дюйм (≈ 25.4 мм)

FIB (Focused Ion Beam) - спецификация:

  • Производитель: Nanmac
  • Маркировка: B2-1-J-48
  • Описание: J

Основные параметры:

  • Тип материала: обычно это кремний или другая полупроводниковая подложка для микроскопических образцов
  • Применение: для подготовки образцов под микроскопию FIB

Плюсы:

  • Высокая точность и качество обработки
  • Универсальность применения
  • Улучшенное качество изображения при микроскопии FIB

Минусы:

  • Высокая стоимость оборудования и материалов
  • Сложность операций
  • Требуется специальное обучение для использования

Общее назначение:

  • Подготовка микрообразцов для исследования
  • Корректировка и модификация поверхности материалов
  • Изучение структуры материалов на молекулярном уровне

В каких устройствах применяется:

  • Фокусированные ионные бомбы (FIB)
  • Электронно-лучевые микроскопы (SEM)
  • Атомно-поглощающие спектрометры (AES)
  • Нанотехнологические лаборатории
Выбрано: Показать

Характеристики B2-1-J-48

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории