SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC

• Основные параметры:
• Тип: микросхема для тестирования
• Количество входов/выходов: 24
• Пакет: 24-SOIC
• Использует технологию Scan Test для улучшения качества продукции
• Поддерживает разные режимы работы: тестирование, прием и передача данных
• Плюсы:
• Улучшенное качество продукции благодаря технологии Scan Test
• Множественные входы/выходы для эффективного тестирования
• Поддержка приема и передачи данных, что позволяет использовать её в коммуникационных системах
• Минусы:
• Высокая стоимость по сравнению с простыми микросхемами тестирования
• Требует специализированного оборудования для программирования и тестирования
• Общее назначение:
• Тестирование цифровых логических устройств
• Программирование и тестирование микроконтроллеров
• Использование в системах приема и передачи данных
• В каких устройствах применяется:
• Цифровые интегральные устройства
• Микроконтроллеры и микропроцессоры
• Системы приема и передачи данных в различных приложениях
• Тестирование и отладка цифровых электронных систем