SN74ABT8543DW

SN74ABT8543DW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC

• Основные параметры:
  • Тип: скан-тестовая микросхема
  • Количество входов/выходов: 28
  • Форм-фактор: 28-SOIC
  • Технология: CMOS
  • Напряжение питания: 1.65 В до 5.5 В
  • Частота работы: до 100 МГц
• Плюсы:
  • Высокая надежность и стабильность работы
  • Поддержка широкого диапазона напряжений питания
  • Высокая скорость работы
  • Удобство интеграции с другими компонентами
• Минусы:
  • Высокая стоимость по сравнению с аналогичными компонентами
  • Необходимость использования специализированного оборудования для тестирования
• Общее назначение:
  • Использование в системах сканирования (scan) для тестирования других IC
  • Поддержка функций тестирования и отладки в цифровых системах
  • Внедрение в прототипирование и разработку цифровых устройств
• Применение:
  • Цифровые системы связи
  • Производство микроконтроллеров и процессоров
  • Тестирование и отладка цифровых IC
  • Автоматизация и промышленное производство