SN74ABTH18646APM

SN74ABTH18646APM Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

• Основные параметры:
  • Количество входов/выходов (I/O): 64
  • Тип микросхемы: Испытательный интерфейс для сканирования (Scan Test Interface)
  • Поддержка протоколов: JTAG
  • Технология производства: CMOS
  • Напряжение питания: 2.5 В - 3.6 В
• Плюсы:
  • Высокая надежность и стабильность работы
  • Поддержка протокола JTAG для удобства тестирования и отладки
  • Устойчивость к электрическим помехам
  • Минимальное потребление энергии
• Минусы:
  • Высокая стоимость по сравнению с другими типами микросхем
  • Необходимость специализированного оборудования для тестирования
• Общее назначение:
  • Использование в цифровых системах для обеспечения их функциональности и надежности
  • Поддержка сканирования для диагностики и отладки
  • Встраивание в микросхемы, требующие высокой надежности и точности
• Применение в устройствах:
  • Системы управления процессорами
  • Цифровые радиооборудование
  • Автомобильные системы
  • Промышленные контроллеры
  • Медицинское оборудование