Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT
;
SN74BCT8240ANT

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.
  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74BCT8240ANT
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIPВсе характеристики

Минимальная цена SN74BCT8240ANT при покупке от 36 шт 1565.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8240ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFFER 24-DIP

  • Основные параметры:
    • Тип: устройство для тестирования под отладкой (IC SCAN TEST)
    • Количество входов/выходов: 24
    • Использует технологию BiCMOS с низким напряжением
    • Поддерживает тестирование под отладкой (JTAG)
  • Плюсы:
    • Высокая надежность из-за использования технологии BiCMOS
    • Поддержка тестирования под отладкой позволяет обнаруживать и исправлять ошибки в процессе разработки
    • Низкое напряжение обеспечивает эффективное использование энергии
  • Минусы:
    • Цена может быть выше по сравнению с другими типами микросхем
    • Необходимо наличие соответствующего оборудования для тестирования под отладкой
  • Общее назначение: Устройство используется для тестирования цифровых логических схем и систем, позволяя проводить тестирование под отладкой (JTAG).
  • В каких устройствах применяется:
    • Процессоры и микроконтроллеры
    • Системы управления
    • Автомобильные электронные системы
    • Инженерное оборудование
    • Промышленные контроллеры
Выбрано: Показать

Характеристики SN74BCT8240ANT

Техническая документация

SN74BCT8240ANT.pdf
pdf. 0 kb
  • 1404 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 36 шт
  • Количество
    Цена
  • 36
    1 565 ₽
  • 60
    1 243 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74BCT8240ANT
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIPВсе характеристики

Минимальная цена SN74BCT8240ANT при покупке от 36 шт 1565.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8240ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFFER 24-DIP

  • Основные параметры:
    • Тип: устройство для тестирования под отладкой (IC SCAN TEST)
    • Количество входов/выходов: 24
    • Использует технологию BiCMOS с низким напряжением
    • Поддерживает тестирование под отладкой (JTAG)
  • Плюсы:
    • Высокая надежность из-за использования технологии BiCMOS
    • Поддержка тестирования под отладкой позволяет обнаруживать и исправлять ошибки в процессе разработки
    • Низкое напряжение обеспечивает эффективное использование энергии
  • Минусы:
    • Цена может быть выше по сравнению с другими типами микросхем
    • Необходимо наличие соответствующего оборудования для тестирования под отладкой
  • Общее назначение: Устройство используется для тестирования цифровых логических схем и систем, позволяя проводить тестирование под отладкой (JTAG).
  • В каких устройствах применяется:
    • Процессоры и микроконтроллеры
    • Системы управления
    • Автомобильные электронные системы
    • Инженерное оборудование
    • Промышленные контроллеры
Выбрано: Показать

Характеристики SN74BCT8240ANT

Техническая документация

SN74BCT8240ANT.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 36 шт