SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE BUFFER 24-SOIC

• Основные параметры:
  • Количество входов/выходов: 24
  • Тип: устройство для тестирования с отсканированным сигналом (scan test device)
  • Технология: BCT (BiCMOS Technology)
  • Пакет: 24-SOIC (Surface Mount Technology)
• Плюсы:
  • Высокая надежность из-за использования BiCMOS технологии
  • Улучшенная производительность по сравнению с традиционными TTL микросхемами
  • Поддержка тестирования с отсканированным сигналом, упрощающего диагностику и отладку
• Минусы:
  • Высокая стоимость по сравнению с TTL аналогами
  • Требует специализированного оборудования для тестирования
• Общее назначение:
  • Тестирование цифровых логических устройств и цепей
  • Диагностика и отладка цифровых схем
  • Поддержка методов отсканированного тестирования (scan-based testing)
• Применение:
  • В цифровых системах и микропроцессорных архитектурах
  • В интегральных схемах, требующих высокой надежности
  • В устройствах, где требуется точное тестирование и диагностика