SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

• Основные параметры:
  • Тип: Скан-тестовое устройство для передачи и приема данных (TXRX)
  • Количество входов/выходов: 16
  • Форм-фактор: 24-SOIC
  • Использует технологию BiCMOS с транзисторами на кремнии
  • Рабочее напряжение: от 1.8В до 3.6В
• Плюсы:
  • Высокая надежность тестирования благодаря скан-тесту
  • Минимальное влияние на логическую функциональность устройства при тестировании
  • Поддержка широкого диапазона рабочих напряжений
  • Малый размер и легкость интеграции в дизайн чипов
• Минусы:
  • Необходимо дополнительное оборудование для проведения скан-теста
  • Могут возникать проблемы при совместной работе с другими компонентами из-за высокой чувствительности
• Общее назначение: Используется для проверки работоспособности логических цепей в процессорах, микроконтроллерах и других цифровых IC, обеспечивая точное и быстрое скан-тестирование.
• Применение:
  • Процессоры
  • Микроконтроллеры
  • Системы на чипе (SoC)
  • Микросхемы цифровой обработки сигналов (DSP)
  • Программируемые логические устройства (PLD)