SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

• Основные параметры:
  • Входы/выходы: 16 входов, 8 выходов
  • Количество пинов: 24
  • Технология: CMOS
  • Интерфейс: JTAG (Joint Test Action Group)
  • Напряжение питания: 2.0V до 5.5V
• Плюсы:
  • Высокая надежность и стабильность работы
  • Поддержка диагностики и тестирования с использованием JTAG
  • Малый размер и энергопотребление
  • Простота интеграции в микросхемы и системы
• Минусы:
  • Необходимость подключения к JTAG-интерфейсу для тестирования
  • Обычно используется только для специализированных устройств
• Общее назначение:
  • Скан-тестирование цифровых цепей
  • Диагностика и отладка микроконтроллеров и микросхем
  • Поддержка программного обеспечения для тестирования
• В каких устройствах применяется:
  • Мобильные устройства (телефоны, планшеты)
  • Автомобильная электроника
  • Индустриальные контроллеры и системы
  • Компьютерное оборудование