SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

• Основные параметры:
• Количество входов/выходов: 24
• Тип лatches: скан-тестовые
• Использует технологию BiCMOS
• Рабочее напряжение: 2.0 В - 5.5 В
• Частота работы: до 100 МГц
• Плюсы:
• Высокая скорость работы
• Устойчивость к электрическим помехам
• Минимальное энергопотребление
• Простота интеграции в схему
• Минусы:
• Высокая стоимость по сравнению с аналогичными компонентами
• Требует специальных знаний при использовании для скан-тестирования
• Общее назначение:
• Скан-тестирование цифровых логических схем
• Запоминание состояний сигналов для последующего анализа
• В каких устройствах применяется:
• Производственное оборудование
• Автомобильная электроника
• Аппаратура связи
• Компьютерное оборудование
• Телекоммуникационное оборудование