SN74BCT8373DWR

SN74BCT8373DWR Texas Instruments - микросхемаBoundary Scan Bus Driver

• Основные параметры:
• Поддержка стандартов JTAG и IEEE 1149.1
• Входной сигнал обнуления (Reset)
• Параллельный ввод данных (Data In)
• Параллельный вывод данных (Data Out)
• Выходные сигналы для управления тестированием (Test Mode)
• Скорость работы до 50 МГц
• Плюсы:
• Удобство интеграции с другими компонентами благодаря поддержке JTAG стандарта
• Эффективное тестирование подключенных элементов без необходимости разборки устройства
• Уменьшение времени на тестирование благодаряBoundary Scan технологии
• Минусы:
• Требует дополнительных разъемов и проводов для подключения к JTAG тестеру
• Могут возникать проблемы при неправильном использовании или конфигурации
• Общее назначение:
• Тестирование и диагностика цифровых логических устройств
• Отладка программного обеспечения
• Управление состоянием тестирования
• В каких устройствах применяется:
• Компьютерное оборудование
• Интеллектуальные системы управления
• Автомобильная электроника
• Медицинское оборудование
• Аэрокосмическая техника