SN74LVTH182502APMR

SN74LVTH182502APMR Texas Instruments Микросхема:

• IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
• Эта микросхема предназначена для сканирования и тестирования устройств.
• Она используется в качестве разработочной платы или преобразователя для различных применений.

Основные параметры:

• Форм-фактор: 64LQFP (64-пиновый поверхностн montажный пакет)
• Технология: CMOS с пониженным напряжением
• Напряжение питания: 3.3 В
• Частота работы: до 25 МГц
• Входной сигнал: цифровой
• Выходной сигнал: цифровой

Плюсы:

• Высокая надежность благодаря использованию технологии CMOS с пониженным напряжением.
• Малый размер благодаря поверхностному монтажу.
• Универсальность применения в различных системах.
• Разработана для быстрого тестирования и диагностики.

Минусы:

• Стоимость может быть выше по сравнению с менее сложными решениями.
• Требует специализированного оборудования для установки.
• Необходимо наличие знаний и опыта для эффективного использования.

Общее назначение:

• Тестирование цифровых устройств.
• Диагностика и отладка микропроцессорных систем.
• Разработка и тестирование новых интегральных схем.

Применяется в:

• Производстве и тестировании цифровых электронных устройств.
• Разработке и производстве микроконтроллеров.
• Тестировании и отладке цифровых систем.
• Научных исследованиях и разработке новых технологий.