SN74LVTH182512DGGR

SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments Микросхема:

• IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Основные параметры:

• Функциональность: Микросхема предназначена для сканирования и тестирования устройств.
• Количество входов/выходов: 64.
• Технология: TSSOP (Термоскрепление с surface mount).
• Используемые технологии: LV (Low Voltage).
• Скорость работы: Низкая.

Плюсы:

• Высокая надежность сканирования и тестирования.
• Удобство установки благодаря технологии TSSOP.
• Поддержка множества логических уровней.

Минусы:

• Низкая скорость работы по сравнению с современными технологиями.
• Требует дополнительного оборудования для тестирования.

Общее назначение:

• Тестирование и диагностика цифровых устройств.
• Сканирование логических цепей.

В каких устройствах применяется:

• Промышленное оборудование.
• Автомобильные системы.
• Электронные системы управления.
• Медицинское оборудование.