SN74LVTH182646APM

SN74LVTH182646APM Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

• Основные параметры:
  • Тип: скан-тестовое устройство и мультиплексор данных.
  • Входы: 37 входов (24 входа данных, 12 входов управления).
  • Выходы: 64 выхода.
  • Напряжение питания: 2,5 В - 5,5 В.
  • Частота работы: до 50 МГц.
• Плюсы:
  • Высокая плотность подключения.
  • Минимальное влияние на скорость работы.
  • Универсальность применения.
  • Экономичное использование пакета.
• Минусы:
  • Сложность программирования.
  • Необходимость специализированного оборудования для тестирования.
• Общее назначение:
  • Используется для сканирования и тестирования цифровых цепей.
  • Поддерживает диагностику и отладку микроконтроллеров и других цифровых устройств.
  • Способствует улучшению качества продукции путем обеспечения точного тестирования.
• Применение в устройствах:
  • Производство semiconductors и ICs.
  • Разработка тестовых станций.
  • Производство инструментов для разработки программного обеспечения.
  • Индустрия электроники и автоматизации.