SN74LVTH18502APMR

SN74LVTH18502APMR Texas Instruments - микросхема 18-битного скана тестирования устройства универсального битового теста (UBT) с 64-пиновой логической быстрой пакетной технологией (LQFP).

• Основные параметры:
• 18-битное сканирование
• Универсальный битовый тест (UBT)
• 64-пиновая LQFP-обертка
• Рабочие напряжения: 2,3 В - 5,5 В
• Максимальная частота работы: до 25 МГц
• Плюсы:
• Высокая плотность размещения на микросхеме
• Широкий диапазон рабочих напряжений
• Поддержка высоких частот
• Универсальность применения
• Минусы:
• Требует дополнительного программного обеспечения для управления
• Могут быть ограничения по количеству тестируемых устройств в зависимости от архитектуры системы
• Общее назначение:
• Тестирование цифровых устройств и систем
• Изоляционное тестирование
• Отслеживание состояния устройств в реальном времени
• В каких устройствах применяется:
• Производственное оборудование
• Автомобильные системы
• Электронные устройства потребления
• Системы контроля и управления доступом
• Коммуникационные системы