SNJ54BCT8244AFK

SNJ54BCT8244AFK Texas Instruments Микросхема:

• 54BCT8244A SCAN TEST DEVICES WIT.

Основные параметры:

• Тип: Микросхема для тестирования (SCAN)
• Производитель: Texas Instruments
• Название: SNJ54BCT8244AFK
• Количество входов/выходов: 16
• Технология: BCT (BiCMOS Complementary Transistor)
• Рабочие напряжения: VCC = 3.0V до 5.5V
• Частота работы: до 100 MHz

Плюсы:

• Высокая точность тестирования благодаря технологии SCAN.
• Устойчивость к ошибкам благодаря использованию двойного битового кода (DTC).
• Минимальное использование внешних компонентов.
• Поддержка высоких частот работы.

Минусы:

• Высокая стоимость по сравнению с другими типами микросхем.
• Необходимость использования специализированного оборудования для тестирования.
• Занятость дополнительных линий для тестирования.

Общее назначение:

• Тестирование цифровых устройств и систем.
• Отслеживание и диагностика ошибок в цифровых цепях.
• Поддержка разработки и отладки цифровых продуктов.

В каких устройствах применяется:

• Цифровые микропроцессоры.
• Цифровые интегральные схемы.
• Системы управления.
• Автомобильные системы.
• Электронные устройства связи.