Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
TOP075I064/100G

TOP075I064/100G

TOP075I064/100G
;
TOP075I064/100G

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена TOP075I064/100G при покупке от 100 шт 272.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP075I064/100G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP075I064/100G

TOP075I064/100G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированное оборудование для тестирования микросхем высокой плотности подключения. Основные параметры:

  • Тип: ICT (In-Circuit Testing) контактный тестер.
  • Максимальная скорость: 100 Гбит/с.
  • Поддерживаемые технологии: Chip Shine.
  • Контактные зоны: Spring Contact Test Probes.

Плюсы:

  • Высокая точность и надежность тестирования.
  • Поддержка скоростных стандартов до 100 Гбит/с.
  • Минимизация повреждений при контакте с микросхемами.
  • Широкий спектр поддерживаемых технологий.

Минусы:

  • Высокая стоимость оборудования.
  • Необходимость регулярного обслуживания и замены контактных зон.
  • Сложность настройки и использования.

Общее назначение: автоматизированное тестирование электронных компонентов, включая микросхемы, модули и другие устройства высокой плотности подключения.

Применяется в:

  • Производственных линиях по сборке и тестированию сетевых устройств.
  • Производстве серверов и других вычислительных систем.
  • Разработке и тестировании передовых технологий связи.
  • Производстве и тестировании кабельной продукции.
Выбрано: Показать

Характеристики TOP075I064/100G

Техническая документация

TOP075I064/100G.pdf
pdf. 0 kb
  • 5000 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 100 шт
  • Количество
    Цена
  • 100
    272 ₽
  • 200
    258 ₽
  • 500
    246 ₽
  • 1000
    226 ₽
  • 2500
    207 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена TOP075I064/100G при покупке от 100 шт 272.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP075I064/100G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP075I064/100G

TOP075I064/100G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированное оборудование для тестирования микросхем высокой плотности подключения. Основные параметры:

  • Тип: ICT (In-Circuit Testing) контактный тестер.
  • Максимальная скорость: 100 Гбит/с.
  • Поддерживаемые технологии: Chip Shine.
  • Контактные зоны: Spring Contact Test Probes.

Плюсы:

  • Высокая точность и надежность тестирования.
  • Поддержка скоростных стандартов до 100 Гбит/с.
  • Минимизация повреждений при контакте с микросхемами.
  • Широкий спектр поддерживаемых технологий.

Минусы:

  • Высокая стоимость оборудования.
  • Необходимость регулярного обслуживания и замены контактных зон.
  • Сложность настройки и использования.

Общее назначение: автоматизированное тестирование электронных компонентов, включая микросхемы, модули и другие устройства высокой плотности подключения.

Применяется в:

  • Производственных линиях по сборке и тестированию сетевых устройств.
  • Производстве серверов и других вычислительных систем.
  • Разработке и тестировании передовых технологий связи.
  • Производстве и тестировании кабельной продукции.
Выбрано: Показать

Характеристики TOP075I064/100G

Техническая документация

TOP075I064/100G.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 100 шт