TOP075S064/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
- Основные параметры:
- Номинальная проводимость: 200 ГОм
- Материал: нержавеющая сталь или аналогичный материал с высокой conductance
- Длина: обычно около 100 мм
- Диаметр контакта: около 0,2 мм
- Плюсы:
- Высокая conductance обеспечивает надежное электрическое соединение
- Нержавеющая сталь позволяет устойчивость к коррозии
- Малый размер контакта обеспечивает точное тестирование
- Минусы:
- Высокая стоимость по сравнению с менее качественными вариантами
- Уязвимость к повреждениям при неаккуратном использовании
- Общее назначение:
- Тестирование контактных точек чипов и плат
- Измерение сопротивления и проводимости
- Проверка качества соединений на производстве электроники
- В каких устройствах применяется:
- Производство и тестированиеSemiconductor devices (интегральных схем)
- Производство и тестированиеPCB (Printed Circuit Boards)
- Производство и тестированиеOptical and electronic components