Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
TOP100E15/200G

TOP100E15/200G

TOP100E15/200G
;
TOP100E15/200G

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена TOP100E15/200G при покупке от 100 шт 180.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100E15/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100E15/200G

TOP100E15/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированный тестовый прибор для проверки контактов микросхем. Основные параметры и характеристики:

  • Размеры контакта: 15 мм (для TOP100E15) и 200 Гбит/с (для 200G Chip Shine)
  • Тип контакта: Spring Contact Test Probe (Контактное испытательное звено типа пружина)
  • Материал: Обычно из меди или сплавов меди с высоким содержанием цинка для обеспечения хорошего контакта и долговечности
  • Применение: Для тестирования подключения и функциональности микросхем на этапах производства и контроле качества

Плюсы:

  • Высокая точность и надежность контакта благодаря использованию пружинного механизма
  • Устойчивость к износу и долгий срок службы
  • Экономичность по сравнению с другими типами тестовых контактов

Минусы:

  • Требует регулярной проверки и замены для поддержания эффективности
  • Могут вызывать повреждения контактных площадок при неправильном использовании
  • Не подходят для тестирования всех типов микросхем, особенно с чувствительными контактами

Общее назначение: Тестирование подключения и функциональности микросхем на этапах производства и контроле качества. Используется в различных устройствах, таких как серверы, коммутаторы, маршрутизаторы и другиеICT-устройств.

Выбрано: Показать

Характеристики TOP100E15/200G

Техническая документация

TOP100E15/200G.pdf
pdf. 0 kb
  • 4740 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 100 шт
  • Количество
    Цена
  • 100
    180 ₽
  • 500
    159 ₽
  • 2500
    135 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена TOP100E15/200G при покупке от 100 шт 180.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100E15/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100E15/200G

TOP100E15/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированный тестовый прибор для проверки контактов микросхем. Основные параметры и характеристики:

  • Размеры контакта: 15 мм (для TOP100E15) и 200 Гбит/с (для 200G Chip Shine)
  • Тип контакта: Spring Contact Test Probe (Контактное испытательное звено типа пружина)
  • Материал: Обычно из меди или сплавов меди с высоким содержанием цинка для обеспечения хорошего контакта и долговечности
  • Применение: Для тестирования подключения и функциональности микросхем на этапах производства и контроле качества

Плюсы:

  • Высокая точность и надежность контакта благодаря использованию пружинного механизма
  • Устойчивость к износу и долгий срок службы
  • Экономичность по сравнению с другими типами тестовых контактов

Минусы:

  • Требует регулярной проверки и замены для поддержания эффективности
  • Могут вызывать повреждения контактных площадок при неправильном использовании
  • Не подходят для тестирования всех типов микросхем, особенно с чувствительными контактами

Общее назначение: Тестирование подключения и функциональности микросхем на этапах производства и контроле качества. Используется в различных устройствах, таких как серверы, коммутаторы, маршрутизаторы и другиеICT-устройств.

Выбрано: Показать

Характеристики TOP100E15/200G

Техническая документация

TOP100E15/200G.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 100 шт