Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
TOP100I064/100G

TOP100I064/100G

TOP100I064/100G
;
TOP100I064/100G

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена TOP100I064/100G при покупке от 100 шт 178.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100I064/100G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100I064/100G

TOP100I064/100G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированное оборудование для тестирования контактных точек микросхем и чипов. Основные параметры:

  • Тип контакта: spring contact (пружинный контакт)
  • Поддерживаемая скорость: до 100 Гбит/с (100G)
  • Формат: ICT (in-circuit testing) для интегрированного тестирования на этапе сборки
  • Разъем: 100-pin (100-штырьковый разъем)
  • Прочность контакта: высокая устойчивость к износу и нагрузкам

Плюсы:

  • Высокая точность тестирования
  • Устойчивость к воздействию тепла и вибраций
  • Экономичность при длительном использовании благодаря прочности контактов

Минусы:

  • Высокая стоимость по сравнению с другими типами тестовых проколов
  • Требует специального обслуживания и замены контактов

Общее назначение: тестирование контактных точек микросхем и чипов на соответствие техническим требованиям перед их интеграцией в более сложные устройства.

Применяется в:

  • Производстве сетевого оборудования
  • Производстве серверного оборудования
  • Производстве телекоммуникационного оборудования
Выбрано: Показать

Характеристики TOP100I064/100G

Техническая документация

TOP100I064/100G.pdf
pdf. 0 kb
  • 4850 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 100 шт
  • Количество
    Цена
  • 100
    178 ₽
  • 500
    157 ₽
  • 2500
    133 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена TOP100I064/100G при покупке от 100 шт 178.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100I064/100G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100I064/100G

TOP100I064/100G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE — это специализированное оборудование для тестирования контактных точек микросхем и чипов. Основные параметры:

  • Тип контакта: spring contact (пружинный контакт)
  • Поддерживаемая скорость: до 100 Гбит/с (100G)
  • Формат: ICT (in-circuit testing) для интегрированного тестирования на этапе сборки
  • Разъем: 100-pin (100-штырьковый разъем)
  • Прочность контакта: высокая устойчивость к износу и нагрузкам

Плюсы:

  • Высокая точность тестирования
  • Устойчивость к воздействию тепла и вибраций
  • Экономичность при длительном использовании благодаря прочности контактов

Минусы:

  • Высокая стоимость по сравнению с другими типами тестовых проколов
  • Требует специального обслуживания и замены контактов

Общее назначение: тестирование контактных точек микросхем и чипов на соответствие техническим требованиям перед их интеграцией в более сложные устройства.

Применяется в:

  • Производстве сетевого оборудования
  • Производстве серверного оборудования
  • Производстве телекоммуникационного оборудования
Выбрано: Показать

Характеристики TOP100I064/100G

Техническая документация

TOP100I064/100G.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 100 шт