TOP100S09/200G

TOP100S09/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE

• Основные параметры:
  • Размер контакта: 100 μm x 100 μm
  • Длина пружины: 35 mm
  • Максимальное напряжение: 200 V
  • Ток: до 2 A
  • Диаметр: 0.5 mm
• Плюсы:
  • Высокая точность тестирования
  • Совместимость с широким спектром устройств
  • Устойчивость к ионизирующим излучениям
  • Минимальный контактный диаметр для чувствительных компонентов
• Минусы:
  • Высокая стоимость
  • Требует специальных навыков для использования
  • Уязвимость к повреждению при неправильном использовании
• Общее назначение:
  • Тестирование микросхем и чипов высокой плотности
  • Подтверждение функциональности и целостности компонентов
  • Убедиться в отсутствии короткого замыкания или разрыва
• В каких устройствах применяется:
  • Профессиональное оборудование для производства и тестирования электроники
  • Лаборатории разработки новых технологий
  • Производственные линии сборки и тестирования серверов и сетевого оборудования
  • Производство высокоскоростных сетевых коммутаторов и маршрутизаторов