Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
TOP125I17/200G

TOP125I17/200G

TOP125I17/200G
;
TOP125I17/200G

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена TOP125I17/200G при покупке от 100 шт 371.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP125I17/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP125I17/200G

TOP125I17/200G Chip Shine / CSRF 125MIL ICT PROBE

  • Основные параметры:
    • Размер контактов: 17mil x 125mil
    • Тип подключения: ICT (In-Circuit Test)
    • Максимальная скорость тестирования: 200Gbps
  • Плюсы:
    • Высокая скорость тестирования до 200Gbps
    • Универсальность использования для различных типов чипов
    • Точность измерений благодаря точным контактам
  • Минусы:
    • Высокая стоимость по сравнению с менее продвинутыми вариантами
    • Необходимость специализированного оборудования для установки и обслуживания
  • Общее назначение:
    • Тестирование высокоскоростных чипов и модулей
    • Проверка электрических характеристик компонентов
    • Диагностика неисправностей в электронных устройствах
  • Применение:
    • Производство серверов и коммутаторов
    • Разработка высокоскоростных сетевых устройств
    • Тестирование чипов для телекоммуникационной промышленности
Выбрано: Показать

Характеристики TOP125I17/200G

Техническая документация

TOP125I17/200G.pdf
pdf. 0 kb
  • 1000 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 100 шт
  • Количество
    Цена
  • 100
    371 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена TOP125I17/200G при покупке от 100 шт 371.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP125I17/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP125I17/200G

TOP125I17/200G Chip Shine / CSRF 125MIL ICT PROBE

  • Основные параметры:
    • Размер контактов: 17mil x 125mil
    • Тип подключения: ICT (In-Circuit Test)
    • Максимальная скорость тестирования: 200Gbps
  • Плюсы:
    • Высокая скорость тестирования до 200Gbps
    • Универсальность использования для различных типов чипов
    • Точность измерений благодаря точным контактам
  • Минусы:
    • Высокая стоимость по сравнению с менее продвинутыми вариантами
    • Необходимость специализированного оборудования для установки и обслуживания
  • Общее назначение:
    • Тестирование высокоскоростных чипов и модулей
    • Проверка электрических характеристик компонентов
    • Диагностика неисправностей в электронных устройствах
  • Применение:
    • Производство серверов и коммутаторов
    • Разработка высокоскоростных сетевых устройств
    • Тестирование чипов для телекоммуникационной промышленности
Выбрано: Показать

Характеристики TOP125I17/200G

Техническая документация

TOP125I17/200G.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 100 шт