SN74ABT18504PM

SN74ABT18504PM Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

• Основные параметры:
  • Интегрированный тестовый разъем для диагностики
  • Поддержка двухканального тестирования
  • 64-пиновый LQFP-контейнер
  • Работает при температуре от -40°C до +85°C
• Плюсы:
  • Упрощает процесс диагностики и тестирования
  • Поддерживает высокую скорость передачи данных
  • Экономит место на печатной плате благодаря компактному контейнеру
• Минусы:
  • Требует специализированного оборудования для тестирования
  • Необходимо соблюдать особые условия при разработке и сборке
• Общее назначение:
  • Поддержка функций диагностики и тестирования в цифровых системах
  • Встраивание в микропроцессорные системы и другие цифровые устройства
• Применение:
  • Мобильные устройства
  • Автомобильные электронные системы
  • Коммуникационные системы
  • Промышленное оборудование