SN74ABT8646DL

SN74ABT8646DL Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

• Основные параметры:
  • Тип: скан-тестовое устройство/переводчик данных.
  • Пакет: 28-SSOP (Surface Mount Package).
  • Входы: 16.
  • Выходы: 16.
  • Максимальная рабочая температура: +85°C.
  • Номинальное напряжение питания: 3.0 В - 5.5 В.
• Плюсы:
  • Высокая надежность и стабильность работы.
  • Поддержка широкого диапазона напряжений питания.
  • Удобство применения благодаря компактному размеру пакета.
  • Поддержка различных протоколов связи.
• Минусы:
  • Стоимость может быть выше по сравнению с менее сложными решениями.
  • Необходимо наличие специализированного оборудования для тестирования.
• Общее назначение:
  • Используется для сканирования и тестирования логических устройств.
  • Переводит данные между различными интерфейсами.
  • Поддерживает различные протоколы связи, такие как JTAG.
• Применение:
  • Интеллектуальные системы управления.
  • Автомобильные электронные системы.
  • Производственное оборудование.
  • Медицинское оборудование.