Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW
;
SN74ABT8952DW

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.
  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74ABT8952DW
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOICВсе характеристики

Минимальная цена SN74ABT8952DW при покупке от 45 шт 1260.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74ABT8952DW с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

  • Основные параметры:
    • Тип: скан-тестирование/переключатель (Scan-Test-Dev/XCVR)
    • Количество входов/выходов: 16
    • Форм-фактор: 28-SOIC
    • Напряжение питания: 2.0 V до 5.5 V
    • Частота работы: до 100 MHz
  • Плюсы:
    • Высокая скорость работы до 100 MHz
    • Поддержка широкого диапазона напряжений питания
    • Эффективное скан-тестирование для диагностики и отладки
    • Малый размер и компактная форма-фактор 28-SOIC
  • Минусы:
    • Требует дополнительного оборудования для скан-тестирования
    • Не подходит для высокочастотных приложений без соответствующей разработки
  • Общее назначение:
    • Используется для скан-тестирования и диагностики цифровых цепей
    • Поддерживает переключение между несколькими состояниями для тестирования
    • Способствует улучшению качества продукции на этапе производства
  • В каких устройствах применяется:
    • Мобильные телефоны и другие портативные устройства
    • Автомобильные системы
    • Промышленное оборудование
    • Компьютерные платы
Выбрано: Показать

Характеристики SN74ABT8952DW

Техническая документация

SN74ABT8952DW.pdf
pdf. 0 kb
  • 5920 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 45 шт
  • Количество
    Цена
  • 45
    1 260 ₽
  • 60
    1 662 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74ABT8952DW
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOICВсе характеристики

Минимальная цена SN74ABT8952DW при покупке от 45 шт 1260.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74ABT8952DW с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

  • Основные параметры:
    • Тип: скан-тестирование/переключатель (Scan-Test-Dev/XCVR)
    • Количество входов/выходов: 16
    • Форм-фактор: 28-SOIC
    • Напряжение питания: 2.0 V до 5.5 V
    • Частота работы: до 100 MHz
  • Плюсы:
    • Высокая скорость работы до 100 MHz
    • Поддержка широкого диапазона напряжений питания
    • Эффективное скан-тестирование для диагностики и отладки
    • Малый размер и компактная форма-фактор 28-SOIC
  • Минусы:
    • Требует дополнительного оборудования для скан-тестирования
    • Не подходит для высокочастотных приложений без соответствующей разработки
  • Общее назначение:
    • Используется для скан-тестирования и диагностики цифровых цепей
    • Поддерживает переключение между несколькими состояниями для тестирования
    • Способствует улучшению качества продукции на этапе производства
  • В каких устройствах применяется:
    • Мобильные телефоны и другие портативные устройства
    • Автомобильные системы
    • Промышленное оборудование
    • Компьютерные платы
Выбрано: Показать

Характеристики SN74ABT8952DW

Техническая документация

SN74ABT8952DW.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 45 шт