SN74ABTH182652APM

SN74ABTH182652APM Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP

• Основные параметры:
  • Количество бит: 18
  • Форм-фактор: 64LQFP (64-пиновый младший квадратный прямоугольник)
  • Тип: Микросхема для сканирования и тестирования IC
  • Производитель: Texas Instruments
• Плюсы:
  • Удобство интеграции в производственные линии для автоматизированного тестирования
  • Поддержка быстрого сканирования данных
  • Устойчивость к ошибкам и высокая надежность
• Минусы:
  • Высокая стоимость по сравнению с простыми микросхемами тестирования
  • Необходимость специализированного оборудования для работы
• Общее назначение: Используется для сканирования и тестирования интегральных схем, обеспечивая высокую точность и надежность в процессе производства.
• В каких устройствах применяется:
  • Системы управления процессами
  • Автоматизация промышленных производств
  • Интеллектуальные системы безопасности
  • Автомобильные системы
  • Медицинское оборудование