SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR Texas Instruments - микросхема IC SCAN TEST DEVICE BUFFER 24-SOIC

• Основные параметры:
• Количество входов/выходов: 24
• Тип: буфер для сканирования тестирования
• Форм-фактор: 24-SOIC (Surface Mount Technology)
• Технология: CMOS с интегрированной триггерной логикой
• Рабочее напряжение: от 1,65 В до 3,6 В
• Потребляемая мощность: низкая
• Плюсы:
• Высокая надежность благодаря использованию технологии CMOS с триггерной логикой
• Минимальное потребление энергии
• Поддержка широкого диапазона рабочих напряжений
• Удобство применения при сканировании тестировании
• Минусы:
• Невозможность работы при очень низких или очень высоких температурах без дополнительного обогрева или охлаждения
• Необходимость точного поддержания рабочего напряжения
• Общее назначение:
• Использование в системах сканирования тестирования цифровых устройств
• Подключение к цепям данных для обеспечения стабильности сигнала
• Передача данных между различными компонентами цифровой электроники
• Применение в устройствах:
• Цифровые процессоры и контроллеры
• Микроконтроллеры и микросистемы
• Интерфейсы связи и коммуникации
• Системы управления и автоматизации