SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

• Основные параметры:
• Тип: Логическая микросхема для тестирования
• Функция: Устройство скана для тестирования
• Количество входов/выходов: 8
• Пакет: 24 SOIC (Solder-Over--package)
• Технология: BCT (BiCMOS Technology)
• Плюсы:
• Высокая надежность и точность тестирования
• Упрощает процесс диагностики и отладки электронных устройств
• Минимизирует количество требуемых тестовых контактов
• Поддерживает высокие скорости тестирования
• Минусы:
• Высокая стоимость по сравнению с простыми логическими элементами
• Необходимо наличие специализированного оборудования для работы с устройством скана
• Общее назначение:
• Тестирование цифровых логических устройств и цепей
• Отладка и диагностика электронных систем
• Интеграция в тестовые станции и системы автоматического тестирования
• В каких устройствах применяется:
• Цифровые интегральные схемы (ДИС)
• Электронные системы управления
• Программируемые логические контроллеры (PLC)
• Автоматизированные тестовые станции
• Системы связи и радиоэлектроники