SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

• Основные параметры:
• Использует технологию BiCMOS
• Работает при температуре от -40°C до +85°C
• Напряжение питания: 1.8В - 5.5В
• Время задержки лatching ≤ 6 нс
• Максимальная частота работы: 100 МГц
• Плюсы:
• Высокая скорость работы
• Устойчивость к электрическим помехам благодаря использованию технологии BiCMOS
• Надежность и стабильность в широком диапазоне температур
• Экономичное использование энергии
• Минусы:
• Высокая стоимость по сравнению с аналогами
• Требует точного монтажа и подключения
• Общее назначение:
• Используется для сканирования и тестирования логических устройств
• Сохраняет состояние входов и выходов во время тестирования
• Обеспечивает безопасность данных во время диагностики
• Применение в устройствах:
• Системы тестирования и диагностики микропроцессоров и других ЛС
• Автомобильные системы управления
• Коммуникационные устройства
• Системы обработки сигналов