Вход/Регистрация
SN74ABT18504PMМикросхема: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74BCT8374ANT
SN74BCT8374ANT
- Производитель:Texas Instruments
- Артикул:SN74BCT8374ANT
- Описание:Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIPВсе характеристики
Минимальная цена SN74BCT8374ANT при покупке от 59 шт 982.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8374ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.
- 75 шт3-6 недель
Минимально и кратно 59 шт
- КоличествоЦена
- 59982 ₽
- 601 457 ₽
Кешбэк 1 балл
Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену
- Производитель:Texas Instruments
- Артикул:SN74BCT8374ANT
- Описание:Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIPВсе характеристики
Минимальная цена SN74BCT8374ANT при покупке от 59 шт 982.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8374ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.
Описание SN74BCT8374ANT
SN74BCT8374ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Основные параметры:
- Тип: устройство для тестирования с функциями сканирования
- Количество входов-выходов: 24 (DIP-пакет)
- Использует технологии BiCMOS и TTL
- Поддерживает сканирование для тестирования функциональности
- Плюсы:
- Улучшенная надежность благодаря сканированию
- Минимизация ошибок при тестировании
- Поддержка быстрого диагностирования
- Минусы:
- Затраты на разработку и производство могут быть выше из-за дополнительных функций сканирования
- Необходимо дополнительное оборудование для тестирования
- Общее назначение:
- Тестирование цифровых логических устройств
- Диагностика поломок в цифровых системах
- Сканирование состояния регистров и логических элементов
- В каких устройствах применяется:
- Цифровые электронные системы управления
- Производственные линии автоматизации
- Автомобильные системы управления
- Радиоэлектронные устройства
- Информационные системы
Выбрано: Показать
Характеристики SN74BCT8374ANT
Минимально и кратно 59 шт