Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT
;
SN74BCT8374ANT

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.
  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74BCT8374ANT
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIPВсе характеристики

Минимальная цена SN74BCT8374ANT при покупке от 59 шт 945.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8374ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

  • Основные параметры:
    • Тип: устройство для тестирования с функциями сканирования
    • Количество входов-выходов: 24 (DIP-пакет)
    • Использует технологии BiCMOS и TTL
    • Поддерживает сканирование для тестирования функциональности
  • Плюсы:
    • Улучшенная надежность благодаря сканированию
    • Минимизация ошибок при тестировании
    • Поддержка быстрого диагностирования
  • Минусы:
    • Затраты на разработку и производство могут быть выше из-за дополнительных функций сканирования
    • Необходимо дополнительное оборудование для тестирования
  • Общее назначение:
    • Тестирование цифровых логических устройств
    • Диагностика поломок в цифровых системах
    • Сканирование состояния регистров и логических элементов
  • В каких устройствах применяется:
    • Цифровые электронные системы управления
    • Производственные линии автоматизации
    • Автомобильные системы управления
    • Радиоэлектронные устройства
    • Информационные системы
Выбрано: Показать

Характеристики SN74BCT8374ANT

  • 75 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 59 шт
  • Количество
    Цена
  • 59
    945 ₽
  • 60
    1 402 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

  • Производитель:
    Texas Instruments
  • Артикул:
    SN74BCT8374ANT
  • Описание:
    Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIPВсе характеристики

Минимальная цена SN74BCT8374ANT при покупке от 59 шт 945.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить SN74BCT8374ANT с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT Texas Instruments Микросхема: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

  • Основные параметры:
    • Тип: устройство для тестирования с функциями сканирования
    • Количество входов-выходов: 24 (DIP-пакет)
    • Использует технологии BiCMOS и TTL
    • Поддерживает сканирование для тестирования функциональности
  • Плюсы:
    • Улучшенная надежность благодаря сканированию
    • Минимизация ошибок при тестировании
    • Поддержка быстрого диагностирования
  • Минусы:
    • Затраты на разработку и производство могут быть выше из-за дополнительных функций сканирования
    • Необходимо дополнительное оборудование для тестирования
  • Общее назначение:
    • Тестирование цифровых логических устройств
    • Диагностика поломок в цифровых системах
    • Сканирование состояния регистров и логических элементов
  • В каких устройствах применяется:
    • Цифровые электронные системы управления
    • Производственные линии автоматизации
    • Автомобильные системы управления
    • Радиоэлектронные устройства
    • Информационные системы
Выбрано: Показать

Характеристики SN74BCT8374ANT

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 59 шт