SN74LVT8980AIDWREP

SN74LVT8980AIDWREP Texas Instruments Микросхема: IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC

• Основные параметры:
• Тип: контроллер шины тестирования встроенной памяти
• Количество линий: 24 SOIC
• Использует протокол JTAG
• Поддерживает скорость до 100 МГц
• Рабочие напряжения: от 1.65 В до 3.6 В
• Поддерживает тестирование памяти
• Плюсы:
• Высокая скорость работы до 100 МГц
• Поддержка протокола JTAG для удобства тестирования
• Экономия места благодаря использованию 24-пинового корпуса SOIC
• Поддержка различных типов памяти
• Минусы:
• Требует дополнительного программного обеспечения для тестирования
• Некоторые пользователи могут считать его сложным в настройке
• Общее назначение:
• Тестирование встроенной памяти в различных устройствах
• Управление шиной JTAG для тестирования и отладки
• Сокращение времени тестирования за счет высокой скорости работы
• В каких устройствах применяется:
• Процессоры и микроконтроллеры
• Андроид-устройствами
• Компьютерами и серверами
• Телекоммуникационными устройствами
• Автомобильной электроникой