SN74LVTH182504APM

SN74LVTH182504APM Texas Instruments Микросхема:

• IC SCAN-TEST-DEV/XCVR
• 64-LQFP

Основные параметры:

• Использует протокол JTAG для тестирования и отладки.
• Поддерживает сканирование данных и управления.
• Работает с тактовыми частотами до 33 МГц.
• Обеспечивает высокую скорость передачи данных.
• Поддерживает различные типы линий связи.

Плюсы:

• Высокая надежность и стабильность работы.
• Удобство использования для разработчиков и инженеров.
• Минимальное влияние на функциональность подключенных устройств.
• Поддержка широкого диапазона температур.

Минусы:

• Высокая стоимость по сравнению с другими аналогичными решениями.
• Требует дополнительного оборудования для тестирования.
• Необходимо соблюдение спецификаций при подключении к системе.

Общее назначение:

• Тестирование и отладка цифровых систем.
• Сканирование данных и управления в цифровых цепях.
• Передача данных между микросхемами.

В каких устройствах применяется:

• Мобильные устройства.
• Компьютерная периферия.
• Автомобильные системы.
• Аэрокосмическая техника.
• Производственное оборудование.