SN74LVTH18504APM

SN74LVTH18504APM Texas Instruments Микросхема:

• IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Основные параметры:

• Тип: Микросхема для сканирования и тестирования
• Количество входов/выходов: 64
• Форм-фактор: LQFP (64-пиновый логический квадратный пакет)
• Интерфейс: JTAG (Joint Test Action Group)
• Маршрутизация: Встроенные маршрутизаторы для сканирования

Плюсы:

• Высокая надежность и точность сканирования
• Поддержка множественных устройств на одной шине JTAG
• Экономия места на печатной плате благодаря компактному пакету LQFP
• Удобство в разработке и тестировании микропроцессорных систем

Минусы:

• Высокие требования к точности при монтаже из-за малого размера пакета
• Необходимость наличия специального оборудования для тестирования
• Ограниченная скорость передачи данных по сравнению с современными интерфейсами

Общее назначение:

• Тестирование цифровых устройств и систем на этапе производства
• Диагностика и отладка программного обеспечения
• Сканирование цепей для выявления неисправностей

В каких устройствах применяется:

• Производственные линии сборки электроники
• Лаборатории разработки и тестирования
• Профессиональные инструменты для отладки и тестирования микропроцессорных систем