Войдите в профиль

Вы можете отслеживать статусы заказов и получать персональные предложения

Москва

Каталог товаров
Как заказать
О компании
8 800 550-00-22info@eicom.ru
ДоставкаОплатаКешбэкКонтакты

Загрузить BOM

home
Главная
catalog
Каталог
cart
Корзина
favorites
Избранное
profile
Войти
TOP100I09/200G

TOP100I09/200G

TOP100I09/200G
;
TOP100I09/200G

* Изображение является ознакомительным. Точные технические характеристики следует изучить в техническом паспорте изделия.

Минимальная цена TOP100I09/200G при покупке от 100 шт 178.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100I09/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100I09/200G

TOP100I09/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE

  • Основные параметры:
    • Интерфейс: ICT (In-Circuit Test)
    • Тип: Spring Contact Test Probe
    • Размеры: TOP100I09/200G Chip Shine
    • Максимальная скорость тестирования: до 200 Гбит/с
  • Плюсы:
    • Высокая точность и надежность при контакте с компонентами
    • Устойчивость к механическим воздействиям
    • Быстрое и удобное применение для массового тестирования
  • Минусы:
    • Требует специального оборудования для установки и настройки
    • Стоимость относительно высокая по сравнению с другими типами тестовых пружин
  • Общее назначение: Используется для тестирования и диагностики чипов и других компонентов в электронных устройствах.
  • Применение:
    • Производство и тестирование серверов и сетевых устройств
    • Производство и тестирование коммуникационного оборудования
    • Производство и тестирование высокоскоростных систем
Выбрано: Показать

Характеристики TOP100I09/200G

Техническая документация

TOP100I09/200G.pdf
pdf. 0 kb
  • 5000 шт
    3-6 недель
Минимально и кратно 100 шт
  • Количество
    Цена
  • 100
    178 ₽
  • 500
    157 ₽
  • 2500
    135 ₽

Кешбэк 1 балл

Авторизируйтесь, чтобы
снизить цену

Минимальная цена TOP100I09/200G при покупке от 100 шт 178.00 ₽/шт. Стоимость зависит от количества электронных компонентов. Купить TOP100I09/200G с бесплатной доставкой можно картой онлайн или по безналичному расчету.

Описание TOP100I09/200G

TOP100I09/200G Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE

  • Основные параметры:
    • Интерфейс: ICT (In-Circuit Test)
    • Тип: Spring Contact Test Probe
    • Размеры: TOP100I09/200G Chip Shine
    • Максимальная скорость тестирования: до 200 Гбит/с
  • Плюсы:
    • Высокая точность и надежность при контакте с компонентами
    • Устойчивость к механическим воздействиям
    • Быстрое и удобное применение для массового тестирования
  • Минусы:
    • Требует специального оборудования для установки и настройки
    • Стоимость относительно высокая по сравнению с другими типами тестовых пружин
  • Общее назначение: Используется для тестирования и диагностики чипов и других компонентов в электронных устройствах.
  • Применение:
    • Производство и тестирование серверов и сетевых устройств
    • Производство и тестирование коммуникационного оборудования
    • Производство и тестирование высокоскоростных систем
Выбрано: Показать

Характеристики TOP100I09/200G

Техническая документация

TOP100I09/200G.pdf
pdf. 0 kb

Похожие товары

Все товары
Похожие товары

Похожие категории

Все товары
Похожие категории
Минимально и кратно 100 шт